鍍層測(cè)厚儀是對(duì)加工業(yè)和精細(xì)工業(yè)產(chǎn)品表層進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量使產(chǎn)品的質(zhì)量達(dá)到高品質(zhì)的重要設(shè)備手段，我國(guó)為了使我們的產(chǎn)品能夠有化的水準(zhǔn)，于是對(duì)測(cè)厚儀都提出了非常明確高指標(biāo)的要求，以此來規(guī)范的避免影響測(cè)厚儀測(cè)量的因素，下面小編來給大家介紹一下影響測(cè)厚儀測(cè)量的因素究竟有哪些。

　　

　　影響鍍層測(cè)厚儀測(cè)量的因素有哪些

　　

　　1、基體金屬的選擇

　　

　　基體金屬的選擇于試件的測(cè)試是息息相關(guān)的，首先專業(yè)的鍍層測(cè)厚儀分有磁性方法和渦流方法，兩種方法對(duì)于測(cè)厚儀的基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片都有不一樣的磁性和電性要求，必須要對(duì)號(hào)入座的進(jìn)行測(cè)量匹配，并且基體金屬的厚度對(duì)于我們的測(cè)量也有一定的影響。

　　

　　2、測(cè)試時(shí)的環(huán)境和條件

　　

　　測(cè)厚儀一的測(cè)試本身是非常方便的，它的出現(xiàn)很大程度上提高了我們對(duì)于產(chǎn)品測(cè)量的效率，但是我們?cè)跍y(cè)量的時(shí)候需要注意到測(cè)量的環(huán)境以及必要的測(cè)量條件，首先我們需要注意測(cè)量時(shí)周圍的磁場(chǎng)環(huán)境，磁場(chǎng)過高或不穩(wěn)定都會(huì)對(duì)我們的測(cè)量數(shù)據(jù)產(chǎn)生影響，其次潮濕的環(huán)境也是不利于我們的測(cè)量，而基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片與試件本身的一些條件也會(huì)影響到我們的測(cè)量數(shù)據(jù)，例如測(cè)厚儀基體金屬片表層的粗糙程度等等。

　　

　　3、邊界距離：當(dāng)探頭與被測(cè)樣品邊界、孔眼、空腔、其他截面變化出的距離小于規(guī)定的邊界距離時(shí)，由于渦流載體截面不夠?qū)a(chǎn)生測(cè)量誤差。所以，在靠近被測(cè)樣品邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。如果必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度時(shí)，需預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　

　　4、表面粗糙度：粗糙的表面會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)誤差，對(duì)于粗糙的表面應(yīng)進(jìn)行多點(diǎn)多次測(cè)量，然后取平均值以獲得較客觀的數(shù)據(jù)。基體金屬和覆蓋層的粗糙度越大，對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響也越大，因此要使基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。

　　

　　5、測(cè)量時(shí)的一些其它影響因素

　　

　　我們?cè)谶M(jìn)行測(cè)量的時(shí)候要注意到試件表面要保持清潔不能有異物遮擋，并且即便是可信賴的鍍層測(cè)厚儀在測(cè)量時(shí)也都容易受到一些突然變化的影響所以我們要避免在試件的曲面和邊緣進(jìn)行測(cè)量。

　　

　　我們選擇到了一個(gè)高品質(zhì)的度量測(cè)厚儀并不意味著我們的測(cè)量數(shù)據(jù)就會(huì)一定的準(zhǔn)確，因?yàn)樵跍y(cè)量過程中總會(huì)有一些細(xì)微的影響因素需要我們?nèi)プ⒁猓挥刑幚砗眠@些影響因素才會(huì)使我們的鍍層測(cè)厚儀能夠發(fā)揮出其應(yīng)有的作用。